隨著可重構智慧表面(Reconfigurable Intelligent Surface；RIS)技術日益受到關注，並被視為下一代高頻通訊解決方案，建構準確且彈性的量測環境已成為RIS技術研究中的關鍵要素。RIS技術能讓高頻訊號穿透室內環境，可有效解決毫米波(mmWave)通訊在穿透建築物窗戶時的訊號衰減問題。
韓國電子通訊研究院(ETRI)近日展示其最新開發的RIS技術，採用Anritsu的向量網路分析儀(VNA) MS46122B作為關鍵量測儀器，即使在有限空間的設置中也能展現高精度的量測表現。ETRI新開發的技術採用透明PET薄膜為基材的微型天線陣列，可直接貼附於窗戶表面，無需使用主動式中繼器，即可最大化訊號穿透能力。
在實驗配置中，ETRI使用Anritsu的雙埠VNA MS46122B，對比貼有RIS薄膜的玻璃與普通玻璃之間的S參數和傳輸損耗。MS46122B是一款USB外接式精巧型向量網路分析儀，最高支援43.5 GHz，無論在實驗室或現場環境中，皆能提供穩定且可重複的高頻量測，且無需複雜的傳統設定流程。
Anritsu的VNA已廣泛應用於各大研究機構與產業界，評估高頻材料、天線與訊號傳輸特性。MS46122B正逐漸成為量化評估RIS與超表面(metasurface)技術效能的核心儀器。該解決方案具備可擴充性，支援mmWave、FR2與FR3頻段，是研究團隊在推動RIS技術實現5G-Advanced與未來6G時代商用化部署的理想選擇。
Anritsu表示：「RIS是解決高頻通訊室內涵蓋問題的核心技術，MS46122B是一款體積精巧且高性能的VNA，即使在空間受限的環境中也能確保量測結果的可靠性，為RIS技術的驗證和商轉奠定堅實的基礎。」
